压敏电阻失效模式详解 

分享 收藏 已有 1002 次阅读  2017-06-26 11:35   标签压敏电阻  压敏电阻失效 

MOV 的失效主要有两种模式,一种为开路模式,该模式主要发生在MOV 流过远远超出自身能够承受的浪涌电流时,表征为MOV 本体炸裂,但这种模式不会引起燃烧现象,且出现在家用电器中概率是很低的;另一种为短路模式,大体上可分为老化失效和暂态过电压破坏两种类型:

a、老化失效,这是指电阻体的低阻线性化逐步加剧,漏电流恶性增加且集中流入薄弱点,薄弱点材料融化,形成1kΩ 左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。研究结果表明, 若压敏电阻存在着制造缺陷,易发生早期失效, 强度不大的电冲击的多次作用,也会加速老化过程,使老化失效提早出现;

b、暂态过电压破坏,这是指较强的暂态过电压使电阻体穿孔,导致更大的电流而高热起火,整个过程在较短时间内发生。

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